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澳譜特科技參加第十二屆中國顆粒大會(CCPT12)

 更新時間:2022-06-12 點擊量:432

       2023年4月21-24日,第十二(er)屆中國(guo)顆(ke)粒(li)大(da)會(hui)在海口(kou)魯(lu)能希爾頓酒(jiu)店成功(gong)舉辦,本次(ci)會(hui)議(yi)是(shi)顆(ke)粒(li)學領(ling)域綜合性學術(shu)年會(hui),吸引了來(lai)自全國(guo)高校、科研(yan)院所(suo)、企事業(ye)單位(wei)的2000余名科技工作者參(can)加,80余家單位(wei)參(can)展。大(da)會(hui)以“創新助(zhu)力雙碳,綠色(se)賦能發展"為主題,邀請了馬光輝、郭烈錦、余艾(ai)冰(bing)等院士(shi)作特邀報告,圍繞顆(ke)粒(li)學相關領(ling)域的科研(yan)進(jin)展、產業(ye)發展趨勢(shi)等展開交流。

       澳譜(pu)特科技專家劉偉教(jiao)授應邀作了(le)關于“動(dong)態光(guang)(guang)(guang)散(san)射(she)納米顆(ke)粒(li)粒(li)度(du)測(ce)量(liang)方(fang)法(fa)進展"的主題報告(gao),從“自動(dong)過(guo)濾受(shou)灰(hui)塵(chen)干擾的散(san)射(she)光(guang)(guang)(guang)、相關函數的截取(qu)方(fang)式(shi)、背散(san)射(she)法(fa)測(ce)量(liang)高(gao)濃度(du)樣品粒(li)度(du)和退偏振動(dong)態光(guang)(guang)(guang)散(san)射(she)法(fa)棒狀(zhuang)顆(ke)粒(li)測(ce)量(liang)"等四(si)方(fang)面(mian)分享了(le)最(zui)新研究成果(guo)。

       2023年,澳譜特科技相繼推出Zetatronix 939SZ多角度納米粒度及Zeta電位分析儀,以及MorphoVIEW MIP380靜態圖像粒度粒形分析儀。Zetatronix 939SZ從多個不同的散射角進行光強自相關函數的測量,可以獲得更多的粒度信息,并將其結合到一個數據分析中反演顆粒粒度分布,進而提高粒度分布的準確性。MorphoVIEW MIP380 靜態圖像粒度粒形分析儀基于顯微鏡結構,不僅能獲取粒度參數,還能提供粒形參數,全維度展示顆粒特性。
       第十二屆顆粒大會在海口圓滿落幕,但未來之路任重而道遠,澳譜特科技將會持續不斷加大研發投入,提升技術水平,為中國顆粒學事業的發展貢獻一份力量。
       ;2024嘉善(shan)年會再(zai)相聚!

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