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澳譜特科技參加第十二屆中國顆粒大會(CCPT12)

 更新時間:2022-06-12 點擊量:719

       2023年4月21-24日,第十二屆中國顆粒大會在海口魯能希爾頓酒店成功舉辦,本次會議是顆粒學領域綜合性學術年會,吸引了來自全國高校、科研院所、企事業單位的2000余名科技工作者參加,80余家單位參展。大會以“創新助力雙碳,綠色賦能發展"為主題,邀請了馬光輝、郭烈錦、余艾冰等院士作特邀報告,圍繞顆粒學相關領域的科研進展、產業發展趨勢等展開交流。

       澳譜特科技專家劉偉教授應邀作了關于“動態光散射納米顆粒粒度測量方法進展"的主題報告,從“自動過濾受灰塵干擾的散射光、相關函數的截取方式、背散射法測量高濃度樣品粒度和退偏振動態光散射法棒狀顆粒測量"等四方面分享了最新研究成果。

       2023年,澳譜特科技相繼推出Zetatronix 939SZ多角度納米粒度及Zeta電位分析儀,以及MorphoVIEW MIP380靜態圖像粒度粒形分析儀。Zetatronix 939SZ從多個不同的散射角進行光強自相關函數的測量,可以獲得更多的粒度信息,并將其結合到一個數據分析中反演顆粒粒度分布,進而提高粒度分布的準確性。MorphoVIEW MIP380 靜態圖像粒度粒形分析儀基于顯微鏡結構,不僅能獲取粒度參數,還能提供粒形參數,全維度展示顆粒特性。
       第十二屆顆粒大會在海口圓滿落幕,但未來之路任重而道遠,澳譜特科技將會持續不斷加大研發投入,提升技術水平,為中國顆粒學事業的發展貢獻一份力量。
       2024嘉善年會再相聚!

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