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【新品上市】多角度納米粒度及Zeta電位分析儀

 更新時間:2021-10-25 點擊量:685

      顆粒粒度對產品的質量起著至關重要的作用,為了幫助廣大用戶準確獲得顆粒粒度信息,以便更好地指導工業生產,澳譜特科技推出了939SZ多角度納米粒度及Zeta電位分析儀。不同粒度的顆粒在不同散射角具有不同的散射特性,多角度動態光散射從多個不同的散射角進行光強自相關函數的測量,并將其結合到一個數據分析中獲取顆粒粒度分布。多角度動態光散射技術具有如下優點:  
      1.避免了對未知樣品不恰當散射角度的選擇  
      2.可以提供更多的信息進行顆粒粒度分布的反演  
      因此(ci),多角(jiao)度(du)動態光散射技術可以(yi)獲得(de)更多的(de)顆(ke)粒粒度(du)測量信息(xi),進(jin)而提高(gao)顆(ke)粒粒度(du)分(fen)布的(de)準確性。  

939SZ 納米粒度及Zeta電位分析儀.png


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