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澳譜特科技參加中國顆粒學會第十一屆學術年會

 更新時間:2020-06-02 點擊量:2104

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大會現場

        顆(ke)(ke)(ke)粒學(xue)相關(guan)專家(jia)學(xue)者、企業代(dai)表帶來一場高水平學(xue)術(shu)(shu)(shu)盛(sheng)宴,彰顯著中國顆(ke)(ke)(ke)粒學(xue)的蓬勃發展(zhan)(zhan)。除(chu)了學(xue)術(shu)(shu)(shu)交流(liu),本次年會還同期舉辦(ban)顆(ke)(ke)(ke)粒/粉體技術(shu)(shu)(shu)、設備(bei)和儀(yi)器展(zhan)(zhan),展(zhan)(zhan)覽內容包括:測(ce)試分析儀(yi)器,顆(ke)(ke)(ke)粒/粉體制備(bei)技術(shu)(shu)(shu)及設備(bei)、顆(ke)(ke)(ke)粒/粉體材(cai)料及產品(pin)、顆(ke)(ke)(ke)粒/粉體應用等。

       澳(ao)譜(pu)特(te)(te)科(ke)技攜帶新推出的(de)納米(mi)粒(li)度及(ji)Zeta電(dian)(dian)(dian)位(wei)分析(xi)儀(yi)和(he)(he)動態圖(tu)(tu)像(xiang)粒(li)度粒(li)形分析(xi)儀(yi)參(can)(can)加(jia)了此次年會(hui)。納米(mi)粒(li)度及(ji)Zeta電(dian)(dian)(dian)位(wei)分析(xi)儀(yi)使(shi)用(yong)動態光散(san)射技術測量(liang)納米(mi)顆(ke)粒(li)粒(li)度,使(shi)用(yong)電(dian)(dian)(dian)泳(yong)光散(san)射技術測量(liang)電(dian)(dian)(dian)泳(yong)遷移(yi)率和(he)(he)Zeta電(dian)(dian)(dian)位(wei),是測量(liang)納米(mi)顆(ke)粒(li)粒(li)度和(he)(he)Zeta電(dian)(dian)(dian)位(wei)的(de)不錯選(xuan)擇。動態圖(tu)(tu)像(xiang)粒(li)度粒(li)形分析(xi)儀(yi)可以迅(xun)速采集數(shu)萬(wan)個(ge)顆(ke)粒(li)的(de)圖(tu)(tu)像(xiang),利用(yong)先進(jin)的(de)數(shu)字圖(tu)(tu)像(xiang)處理算法提(ti)取顆(ke)粒(li)的(de)特(te)(te)征參(can)(can)數(shu),快速獲(huo)得顆(ke)粒(li)的(de)粒(li)度及(ji)粒(li)形信息,以便深入了解產(chan)品(pin)或(huo)工藝狀(zhuang)態。展會(hui)期間,澳(ao)譜(pu)特(te)(te)科(ke)技的(de)兩款儀(yi)器受到了業內人士(shi)的(de)*。
       本(ben)屆顆粒學大會討(tao)論的(de)內容廣泛且具(ju)有深遠的(de)現(xian)實(shi)意(yi)義,激(ji)勵我(wo)們持續(xu)不斷改進(jin)產(chan)品(pin)性(xing)能,滿足廣大用(yong)戶的(de)需求。

展會現場

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