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【應用報告】納米金剛石測試報告

 更新時間:2021-10-25 點擊量:706

       納米鈦酸鋇是電子陶瓷元器件行業使用較廣、用量最大的基礎原料,被譽為“電子陶瓷工業的支柱"。我們使用919SZ型納米粒度及Zeta電位分析儀測試了納米鈦酸鋇懸浮液的粒度和Zeta電位。  
測量原理  
       采用動態光散射法,在90°散射角測量顆粒粒度;采用電泳光散射法,在前向11°散射角測量電泳遷移率,再計算得到Zeta電位。  
樣品制備及測試條件 
       稱取10mg納米鈦酸鋇粉末分散到90mL水中,得到濃度為0.1mg/mL的溶液,超聲分散15分鐘,取1.5mL樣品放入聚苯乙烯比色皿中,將比色皿插入儀器樣品池槽,溫度設置為25℃,溫度平衡時間設置為200s,測量鈦酸鋇顆粒粒度。取0.8mL樣品放入U型毛細管樣品池中,將毛細管樣品池放入儀器樣品池槽,溫度設置為25℃,溫度平衡時間設置為200s,測量鈦酸鋇的Zeta電位。  
測量結果和結論  
粒度  

       研究納米材料的(de)制備(bei)、性(xing)質(zhi)及應(ying)用中常常涉及到晶(jing)(jing)型(xing)轉(zhuan)(zhuan)變(bian),粒(li)度對(dui)納米鈦酸(suan)鋇(bei)顆(ke)粒(li)的(de)晶(jing)(jing)型(xing)轉(zhuan)(zhuan)變(bian)熱(re)力學(xue)性(xing)質(zhi)有很大影響(xiang):隨著粒(li)徑(jing)的(de)減小,其晶(jing)(jing)型(xing)轉(zhuan)(zhuan)變(bian)溫度、晶(jing)(jing)型(xing)轉(zhuan)(zhuan)變(bian)焓和晶(jing)(jing)型(xing)轉(zhuan)(zhuan)變(bian)熵均隨之減小,并且分(fen)別與半徑(jing)的(de)倒數呈線性(xing)關系,因(yin)此研究粒(li)度對(dui)納米鈦酸(suan)鋇(bei)顆(ke)粒(li)晶(jing)(jing)型(xing)轉(zhuan)(zhuan)變(bian)熱(re)力學(xue)性(xing)質(zhi)的(de)影響(xiang)規律(lv)具有重要的(de)科學(xue)意義和實用價值。

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制(zhi)備的(de)納米鈦酸鋇(bei)粒(li)度(du)樣品


粒度測試結果

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相關函數曲線


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顆粒粒度分布曲線

       從測量結(jie)果(guo)可(ke)以看出,粒(li)度分(fen)布均為單峰(feng)分(fen)布且多分(fen)散(san)指數PI均小于0.3,說明納(na)米鈦酸鋇顆粒(li)是適度分(fen)散(san)的樣品,三次測量結(jie)果(guo)重復性較好,為0.7%。

       

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制備的納米鈦酸鋇Zeta電位樣品(pin)

Zeta電位
       顆(ke)粒Zeta電(dian)位(wei)是表(biao)征顆(ke)粒懸(xuan)浮液(ye)穩定性的(de)重要參數,Zeta電(dian)位(wei)越(yue)(yue)大(da)(da),顆(ke)粒懸(xuan)浮液(ye)越(yue)(yue)穩定;反之,顆(ke)粒懸(xuan)浮液(ye)越(yue)(yue)不穩定。通常(chang),在大(da)(da)多數顆(ke)粒懸(xuan)浮液(ye)中,Zeta電(dian)位(wei)絕對值(zhi)大(da)(da)于30mV被稱為穩定的(de)閾(yu)值(zhi)。

Zeta電位測試報告 

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Zeta電位分(fen)布(bu)曲線  

       從測(ce)量結(jie)果可(ke)以看出,三次測(ce)量結(jie)果重復性較好(hao),為(wei)2.5%,Zeta電位值均大于-30mV,說明(ming)納米鈦酸鋇(bei)懸浮液較為(wei)穩定。 


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