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【應用報告】納米鈦酸鋇測試報告

 更新時間:2021-10-25 點擊量:633


       納米鈦酸鋇是電子陶瓷元器件行業使用較廣、用量最大的基礎原料,被譽為“電子陶瓷工業的支柱"。我們使用919SZ型納米粒度及Zeta電位分析儀測試了納米鈦酸鋇懸浮液的粒度和Zeta電位。  
測量原理  
       采用動態光散射法,在90°散射角測量顆粒粒度;采用電泳光散射法,在前向11°散射角測量電泳遷移率,再計算得到Zeta電位。  
樣品制備及測試條件 
       稱取10mg納米鈦酸鋇粉末分散到90mL水中,得到濃度為0.1mg/mL的溶液,超聲分散15分鐘,取1.5mL樣品放入聚苯乙烯比色皿中,將比色皿插入儀器樣品池槽,溫度設置為25℃,溫度平衡時間設置為200s,測量鈦酸鋇顆粒粒度。取0.8mL樣品放入U型毛細管樣品池中,將毛細管樣品池放入儀器樣品池槽,溫度設置為25℃,溫度平衡時間設置為200s,測量鈦酸鋇的Zeta電位。  
測量結果和結論  
粒度  

       研究納(na)米(mi)材料(liao)的制備、性質及應用中常(chang)常(chang)涉及到晶(jing)(jing)(jing)型(xing)轉變(bian),粒(li)(li)(li)度對(dui)納(na)米(mi)鈦酸鋇顆(ke)粒(li)(li)(li)的晶(jing)(jing)(jing)型(xing)轉變(bian)熱力(li)(li)學(xue)性質有(you)很大影響:隨著粒(li)(li)(li)徑的減小(xiao),其晶(jing)(jing)(jing)型(xing)轉變(bian)溫度、晶(jing)(jing)(jing)型(xing)轉變(bian)焓和晶(jing)(jing)(jing)型(xing)轉變(bian)熵均隨之減小(xiao),并且分(fen)別與(yu)半徑的倒數(shu)呈線性關系,因此研究粒(li)(li)(li)度對(dui)納(na)米(mi)鈦酸鋇顆(ke)粒(li)(li)(li)晶(jing)(jing)(jing)型(xing)轉變(bian)熱力(li)(li)學(xue)性質的影響規律具有(you)重要的科(ke)學(xue)意(yi)義和實用價值。

制備的納米鈦酸鋇粒度樣品

 

粒度測試結果(guo)

相關函數曲線

 

顆粒粒度分布曲線

       從測(ce)(ce)量(liang)結果可以看出,粒度分布(bu)均(jun)為(wei)單(dan)峰分布(bu)且多分散(san)指數PI均(jun)小于0.3,說(shuo)明納米鈦(tai)酸鋇(bei)顆粒是適度分散(san)的樣(yang)品,三次測(ce)(ce)量(liang)結果重復性(xing)較好,為(wei)0.7%。

       

制備(bei)的(de)納米鈦酸(suan)鋇Zeta電位樣(yang)品(pin)

Zeta電位
       顆(ke)粒(li)Zeta電位是表征顆(ke)粒(li)懸浮(fu)液(ye)穩(wen)(wen)(wen)定性的(de)重要(yao)參(can)數,Zeta電位越大,顆(ke)粒(li)懸浮(fu)液(ye)越穩(wen)(wen)(wen)定;反之(zhi),顆(ke)粒(li)懸浮(fu)液(ye)越不(bu)穩(wen)(wen)(wen)定。通常(chang),在大多數顆(ke)粒(li)懸浮(fu)液(ye)中,Zeta電位絕對(dui)值大于30mV被稱為穩(wen)(wen)(wen)定的(de)閾值。

Zeta電位測試報告 

Zeta電位(wei)分布曲線(xian)  

       從測量結果可以看出,三次(ci)測量結果重復性(xing)較好,為(wei)2.5%,Zeta電位值均大于(yu)-30mV,說明納米(mi)鈦酸鋇懸浮液較為(wei)穩定(ding)。

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