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納米顆粒粒徑檢測的相關知識介紹

 更新時間:2021-02-28 點擊量:717
   納米顆粒粒徑檢測,必須對多個參數進行表征才能很好地了解它們的特性和行為。除了納米顆粒粒徑外,粒徑分布也很相關。粒徑分布可以揭示諸如溶液中存在聚集體的狀況,這反過來可能表明納米顆粒的分散性較差。
 
  納米顆粒粒徑檢測是指在三維空間中至少有一維處于納米尺寸(1-100nm)或由它們作為基本單元構成的材料。由于它的尺寸很小,會產生很多特殊的效應,比如小尺寸效應、隧道效應以及大的比表面積效應等,因此使得納米材料表現出不同的物理化學特性,例如熔點、磁性、光學、導熱、導電特性等等,因而現在納米材料被廣泛應用于醫藥、化工、冶金、電子、機械、輕工、建筑及環保等行業。
 
  為了實現掃描電子顯微鏡(SEM)對納米顆粒粒徑檢測的準確測量,研究了一種SEM放大倍數校準和光柵間距測量的方法;在SEM的不同放大倍數下對光柵納米結構樣板成像,運用軟件對顯微鏡圖像進行灰度處理并讀取灰度圖像的亮度值數據,通過確定頂線、基線、底線位置,有效消除成像質量及數據處理等的誤差,準確確定質心橫坐標,采用質心算法求取平均光柵間距,通過與光柵間距標稱值比較計算校準系數和校準誤差;為驗證放大倍率校準結果的可靠性,對納米顆粒粒度標準物質進行測量。實際測量的平均粒徑與標準值一致,表明該校準方法準確可靠,可有效避免圖像質量和人為因素對測量結果的影響,達到對納米和亞微米顆粒粒徑準確測量的目的。
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